產(chǎn)品描述
系統(tǒng)概述
LET-2000D系列是力鈦科公司結(jié)合Lecroy的產(chǎn)品特點和優(yōu)勢開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9、JESD2標準的半導體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設計、PCB設計等需要半導體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的測試， LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬和測試精度，可以有效準確的測量出實 際的器件參數(shù)。
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢
1. 采用全球最先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節(jié)，并準確計算出參數(shù)
2. 采用全球首先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測試難點
3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求
4. 可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭
5. 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
6. 器件驅(qū)動設計支持SIC/GAN器件
7. 系統(tǒng)帶寬：>400MHz
8. 系統(tǒng)可以定制
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點
1. 測量參數(shù)齊全：開關參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)、雪崩測試
2. 支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3. 測試方式：單脈沖、多脈沖
4. 離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析
5. 測試UI符合工程師的使用習慣
6. 測量項目及器件支持擴展
系統(tǒng)參數(shù)
● 測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升級到10000V。
● 測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流：2000A-10000A
● 測量參數(shù)：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目： 開關參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)、雪崩能量測試等
● 測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統(tǒng)帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道：4CH
● 雙脈沖脈寬：20ns~1000us。
● 雙脈沖數(shù)：單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據(jù)標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應用
? 功率半導體的來料檢驗
? 功率半導體的動態(tài)參數(shù)驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅(qū)動設計改善
? 實驗室的PCB設計評估
? 功率半導體的生產(chǎn)檢驗和篩選
測試項目
